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                :OLED产业链专业检测_大发云彩神app光电

                解決方案

                solutions
                首頁 > 解決方案 > OLED產業鏈專業檢測
                OLED測試解決方案

                方案簡介:
                大发云彩神app光電的OLED測試解決↑方案主要包括: OLED器件 的IVL測試系統、OLED顯示器/器件光學特性測試、OLED顯示器光色電測試系統、面測量儀器、薄膜和玻璃霧度和透過率測試系統等,滿足OLED國際及國→內相關標準要求。

                一、OLED 器件的IVL測試系統
                方案簡介:
                主要用於OLED顯示器件的發光亮度、色度及光譜分布(選項)、不同電壓/電流條件下的亮度/色度變化曲線※、不同電流電壓變化曲線、電流密度、電流效率、外量子效率的測量。

                                                                                     OLED-200 OLED光色電性能分析系統


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                二、OLED器件老化壽命/光學特性測試
                主要功能:
                測量OLED器件的常溫下常規色度參數/老化壽命;
                ● 高溫下的亮度及色度性能的測量;


                                      OLED-1000多路OLED加速老化壽命與光電性能分析系統                       DMS-1500H顯示設備光學特性綜合測試系統


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                三、OLED顯示器老化壽命/光學特性測試
                主要功能:
                測量OLED顯示器常溫下常規色度參數/老化壽命;
                ● 高溫下的亮度及色度性能的測量;
                ● 模擬環境光對比度測度等參數。


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                四、OLED的光色電測試系統
                主要功能:測試OLED的外量子效率、光通量、光效、光功率、相對光譜功率分布、色品坐標、色溫、主波長、峰值波長、光譜半寬度、顯色指數、色純度、紅色比、色容差、電壓、電流等參數。

                以HAAS-2000高精度快速光譜輻☉射計為核心的實驗室級解決方◣案


                典型測試報告

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                五、OLED亮度和色度均勻性測試系統
                主要功能:測量整個區∴域的亮度、亮度均勻性、色品坐標,色溫,色度均勻性等參數。一次取樣,相當於數百萬個微型輻亮度計同時工作。


                CX系列成像彩√色亮度計


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                六、OLED顯示器亮度和色度均勻性及白平衡測試系統
                主要功能:大发云彩神app公司SRC系列光譜彩色亮度計、暗場亮度計、色彩分析儀等設備用於測量OLED的亮度、對比度、光譜功率分布,色品坐標、色溫、色域覆蓋率、閃爍、GAMMA的校準及測▼試。


                                     SRC系列光譜彩色亮度計                         LM-5暗場亮度計                             DCA-310色彩分析儀

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                七、薄膜和玻璃霧度和透過率測試系統
                主要功能:HAM-300霧度計主要用於塑料、薄膜、玻璃或LCD面板等的霧度、總透光率、散射透光率以及】光譜透射性能的測量。


                HAM-300透過率及霧度測試系統


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                六、OLED顯示器的供電電源、諧波及ぷ電性能檢測
                主要功能:主要用於給顯示器提供交流、直穩的穩定供電條件,並測量顯示器的電壓】、電流、功率、待機功耗、諧∩波含量等電性能參數。


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                七、顯示器的電磁兼容EMC測試
                 主要功能:按照顯示器相關標準要求,對OLED顯示器等進行電磁兼◤容試驗。測試項目涉及靜電放電(ESD)、快速瞬變脈沖(EFT)、雷擊浪湧(SURGE)、周波跌落(DIP)及相關輻射█騷擾、抗擾度測試等。



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